PC3000 Vre.12 昆腾系列和迈拓(LE VQ)Ver 2.32 主菜单

1  Servo test            6 {! b  {+ B$ Z+ w1 p
   伺服测试
5 N6 |( z1 C, `. F" ^: M+ j& t6 }& ]      |--------------------------------------------------------|0 \4 }! c. N$ Y: i: k6 V
   1.1| The testimg procedure will destroy all user data drive |
! |. O( }3 a! `      | 这个测试程序将破坏驱动器的全部使用数据                 |
# [9 E* w4 E) Z: u$ B3 o: w  a0 J      | test starting cylinder : xxxxxxxx                      |
0 n/ |* d) a+ m      |         测试开始的柱面 : xxxxxxxx                      |" r2 ^8 E, U) q
      |   test ending cylinder : xxxxxxxx                      |
# S5 b' G2 D$ c      |         测试结束的柱面 : xxxxxxxx                      |
% E$ P# B. R! F8 p$ U2 w      |       place defecfs to : P-List                        |% M0 [$ e$ ^# t5 y
      |            放置坏道到 : P-List 空格健变换P-List和Glist |
  B7 b7 e) W  J+ k* _" J5 E/ C1 y      | limit fo grouping into cylinders : 64                  |" w4 d  R! w+ R8 k( ]8 K3 d, w
      |    一个柱面超过多少个坏道就封闭 : 64 (可以是2-63)      |; `/ i( F% p6 D& N, F& C# o3 ~( \
      |--------------------------------------------------------|
' h; f1 e, ]% `! R: o% p2 Surface test% I' P. v/ Q. b
   表面测试(物理测试)4 Z% \5 ~. u1 @& `( _: {' @
  2.1 |--------------------------------------------------------|0 O$ m% e+ {- N$ W. h" C# h- t
      |   test starting cylinder : xxxxxxxxxx                  |
* D( V, W8 r# I9 I4 `9 _" h      |           测试开始的柱面 : xxxxxxxxxx                  |
0 S/ F6 Y0 b+ M. S& C( H. n      |     test ending cylinder : xxxxxxxx                    |" M6 {" x0 i3 _7 R2 W
      |           测试结束的柱面 : xxxxxxxx                    |( n& K# o. O  T# j2 T$ i
      |         number of passes : 3                           |+ D* U  i$ J* B) t. F
      |               通过的次数 : 3 (可在1-x之间选择,默认是3) |8 ~9 H  n, J+ v, @5 T
      |number of retry of a defect : 3                         |
5 i* d2 A/ s' Y9 n8 O      |     一个坏道重复测试的次数 : 3(可在1-x之间选择,默认是3)|0 i$ W  u# _$ @9 [
      |   critical time test (ms): 300                         |
$ [# i% O8 O+ z' Y6 }& g  K% U: i      | 测试的临界时间(毫秒):300 (意思是停顿多少毫秒就视为坏道)|
* @( _* G4 U' o! ~% N  \      |     perform writing test : NO                          |
* u, r. f( F- a5 p1 ]# C      |         执行写测试 : NO/YES (N)不是 (y)是  默认是(N)   |
+ @$ F9 u+ l. @4 f+ b      |use all heads while testing : yes                       |$ w5 c) S. t/ d9 ^# U. ?
      |当测试的时候使用全部的磁头 : yes (y)是 (n)是 默认是(yes)|
  ?/ a3 J* z0 W& |/ R      |       place defects to : P-List                        |  {; x' }8 G: M+ L
      |            放置坏道到 : P-List 空格健变换P-List和Glist |6 ^  i* x0 w& q0 d+ l% w
      |  limit fo grouping into cylinders : 64                 |
& X" e- t. N9 c+ C0 `3 x      |    一个柱面超过多少个坏道就封闭 : 64 (可以是2-63)      |( G$ k* p9 X+ L, A
      |--------------------------------------------------------|2 @* W' ?3 p( J
3: Disc firmware zone6 X/ f1 N& b! _, r0 C
   碟片的固件地区
1 c+ L% _4 z! w  F% A  3.1  Work with the rom
7 V0 B; b" r6 Z" x; E$ R       对 ROM 工作
9 J9 h+ ^5 W& h; I) w  3.2 work with disc firmware zone, ?  F3 r7 W% U' O+ t  x( c
      对碟片固件地区工作
% p3 i* D/ D2 Q& e0 C: N* A      3.2.1 Checking of disc firmware structure$ K0 z2 k0 ]1 h/ C$ B' x# T
            检查碟片固件结构
3 H/ V. ~7 T6 e( D. H      3.2.2 disc firmware data writing/reading7 h$ i) K7 L, X
            碟片固件数据写/读3 @, s- _1 _3 ]4 {! a
           3.2.2.1 Exrtact MP from BASE <-|
1 j  {$ \9 W* U( I) w6 L9 f% C                   从数据库提取 MP  p# ?* q1 O' O! D" H: r
                  3.2.2.1.1 writing to disc drive <-
- u- t! R: ^# R- J# L5 M/ q/ f                            写硬盘              
, }% ?$ `/ K; ^1 x7 r! Z! F' Q                           3.2.2.1.1 writing of modules
  P, F/ N# t& U8 \5 b! n                                     写模块
, O% g9 O) o% y6 E. D4 i  o; }                           3.2.2.1.2 configuration pages writing* ^4 \4 J& g! g8 [: Z4 _
                                     写结构页
/ Q7 z- J+ Q, A9 x( n* `                  3.2.2.1.2 writing to folder; l7 j6 n/ x/ ]5 p
                            写文件夹
0 k' u+ L6 @/ Q6 |' L           3.2.2.2 Add MP to BASE
' b' M, N" s$ I+ p                   添加 MP 到数据库
3 L- t3 \) P- q0 I# z           3.2.2.3 Delete MP from BASE2 p# }$ h3 P- e3 {
                   从数据库册除 MP  
# ^& }" H1 b2 w( h; F$ A      3.2.3 Configuration pages reading8 l  d: ]7 e2 L" [( k
            构造页读) d1 B1 T. x1 F6 }# q7 P6 i
      3.3.4 Configuration pages writing* v; N# |9 g) e- a
            构造页写
+ e" \2 ~$ r# Q: O& l3 H      3.3.5 Reading of the modules
: P% y$ ^7 c' p# B) |; U4 K            读模块# S$ u/ _0 }9 n) l. t8 C- B$ U) d% _
      3.3.6 Writing of the modules
5 v' L5 ~  x2 K! S            写模块
9 D; o% M# O/ d      3.3.7 Detailed COM log
4 K/ L% |' ]2 X9 B4 z* X            详细 COM log
2 D7 H  i/ ?4 r0 `      3.3.8 Security subsystem
1 o6 M( t5 T- X! T" r. F& R            安全子系统
2 u) ?7 E7 F3 \/ h" v! u3 q           3.3.8.1 show security information. y2 u+ b1 N( ]0 t  L  @" m* i
                   显示安全信息5 n3 h1 a/ G# J0 m' D
           3.3.8.2 Clear passwords
# v; W( n2 ?3 ^% E/ q8 n                   清除密码
% i  A6 I6 k) @. o( e: @  3.3 Configuration changing% g; `1 h7 z# H5 @' i: W: [
       改变内部构造3 l- `7 F0 V* u- R0 y
  3.4 Load LDR-file to disc RAM
8 g6 W& l" y* ?5 L8 j      加载 LDR 文件到碟片的 RAM( p9 C9 m/ w4 X/ J' l9 x
  3.5 spindle stop
$ h' z0 a! c5 j( r     主轴停转! q5 }" M1 ], f! X0 V( z: J
4: Disc ID
" C% Y0 }- v8 W- k2 H% y7 q9 ?   硬盘的身份(变硬盘的型号和容量)
2 _4 Z( J( N9 u# e5: Logical scanning
. h6 g8 G4 C, e   逻辑扫描
. y1 t. |9 m+ z9 g. A% z  5.1  |---------------------------------------------------------|
6 z, `' V/ }2 t9 g6 X, T       | initial LBA position  : x                               |
! v: y! p, ]% O* }0 g* D       |        初始 LBA 位置  : X                               |
) Z2 h* V: d0 k3 C& {" E       |  final LBA  position  : xxxxxxxxxxxx                    |5 v" M# z6 u+ l9 P
       |      结束的 LBA 位置  : xxxxxxxxxxxx                    |2 Q1 g+ @% {  f  J  v7 d0 X
       |    reversive scanning : NO                              |
1 g5 N1 V. D% V2 ^" Z/ @2 ^       |    从后面向前面扫描   : NO 键入(Y)就从后面向前面扫描    |
# J1 d4 k% G. y0 B! _       |      number of passes : 3                               |
8 |* a+ u9 i4 P5 p4 V  e4 g, g       |          通过的次数 : 3 (可在1-x之间选择,默认是3)       |. t  |3 Y8 X. M7 y9 _  b. Q
       | number of retry of a defect : 3                         |0 d4 S# s' s, n3 P! w! g
       |     一个坏道重复测试的次数 : 3(可在1-x之间选择,默认是3) |& o! q4 E5 E* B. Q) y! R6 B% r
       |   critical time test (ms): 300                          |
6 @3 n1 V+ r% J, r+ S) P       | 测试的临界时间(毫秒):300 (意思是停顿多少毫秒就视为坏道) |( {, G8 }) U, q2 Y
       |     perform writing test : NO                           |
( i/ g* Q. _2 k+ q" e       |         执行写测试 : NO/YES (N)不是 (y)是  默认是(N)    |1 f+ Z: [  [8 l$ B* {& A" P
       | verify instead of reading : yes                         |/ _; }- Z* k7 L7 J4 B2 E
       |                校验代替读 : yes                         |
; G. J7 j, l5 }$ g0 F4 i       |    place defecfs to : P-List                            |
8 h1 C7 D* j0 K3 |8 i5 |/ W& [# N       |          放置坏道到 : P-List 空格健变换P-List和Glist    |% q4 q! c. @& b: G; F
       |---------------------------------------------------------|  $ `0 i5 \9 \, L! S
2 X/ |1 D- Z( ]! j
6: S.M.A.R.T. table7 K! [7 I, ]- }; \; ^' h- D' G( V. N& \
   S.M.A.R.T 表) k/ O, T2 j, x8 C+ E- K
  6.1 to review S.M.A.R.T. table) l# @/ U8 ^: h# E) G7 u
      观察 S.M.A.R.T 表
; M1 ]: o$ b; |) t; e  6.2 to load S.M.A.R.T. (external module)
  m+ c% [7 I/ x; s/ Y      加载 S.M.A.R.T. (外部模块)
/ u1 W1 K0 F0 }- m6 \  6.3 S.M.A.R.T. parameters reset. X0 J9 f! q: l% l, J3 H! s
      复位 S.M.A.R.T. 参数
4 N2 I9 S( E, `9 @$ N% g2 C+ R) `8 s7: Defects table, \; l" F. S1 Q$ _' h
   坏道表
9 I5 v( l" ?: f  7.1 to review  defects teble
7 D, G/ s6 @9 o* v      观察坏道表" v: ~4 U2 ?( I9 W: U2 i
  7.2 Add LBA defects% r5 ^: E/ Z( x
      按 LBA 添加坏道表
# `. V5 c' z; Z% C3 n1 G4 I: n  7.3 Add physical sector+ E- ~7 g; R# q. @8 F% [# e7 ]8 E
      按物理扇区添加
3 \. g& `/ l3 J/ U, g7 l5 ^" w, i* t1 Q  7.4 Add physical track# P+ t7 Z3 J0 M
      按物理磁轨添加
- f( s# I2 I% P( j( H6 O/ s" S  7.5 Grouping defects into tracks
$ Z: R5 O& I# ]0 x$ k8 ?9 Q4 l' c      封闭坏道到磁轨里
5 H! |% `3 U6 e  b; O! Q  7.6 import of logical defects table  [0 J0 c" x8 ]1 z, A6 w! x; E9 |
      逻辑坏道表的输入( k+ @3 [2 v" o  o7 J$ {: p
  7.7 Erase defects table
. C1 i5 Q# b4 V0 \5 }0 R      删除坏道表
1 V' s/ t! S8 I$ G  7.8 Defects table export& C4 U  ^. n; v7 Y
      坏道表输出( v2 f) x! o6 P* @6 _0 |
  7.9  Defects table import
  S" G5 ]) L& C0 X- A/ b+ M" M       坏道表输入  U+ Z: i/ p' B9 ^( p
  7.10 Work with module 06h
8 H9 w  _" p# `0 s2 _6 T       对06h 模块工作+ n5 g) `/ k+ Z( Z! s. C
8: Automatic mode5 ?  {& R. ~. P: H' [
   自动化模式0 ^2 e6 d- h5 d+ k5 \
9: SELFSCAN& J, `5 T9 \# U
   自我扫描0 v3 U0 O0 \( R* y5 g) T0 v
   9.1 condition viewing 4 u! l: b0 }% D( q( y
       条件观察
. }7 ?# v, V2 }' v+ O( f   9.2 load selfscan
0 I8 M* a/ Q0 [8 N% }       加载自我扫描     
! \% a+ L8 ?# H  i% [& b   9.3 start selfscan  ?, `$ a: ?2 S, {
       起动自我扫描
$ E1 O; B# F) a& i   9.4 stop selfscan$ f; O2 V3 {$ T( X2 u- L" H
       停止自我扫描% [4 |7 X2 S" X) l
10:EXIT
5 @+ b+ m1 e$ q  g; P% I8 w# J   退出