PC3000 V12昆腾模块中文说明

①伺服测试选项     ①读取ROM信息      ①磁盘固件区检测     ①写入FW
) ^4 T! Q4 K& c7 L1 W; E4 ?                                     ②读写磁盘FW       ②增加FW
; }, s( [4 l( K  M( U5 f" c' y3 w②磁盘表面测试     ②磁盘FW区操作     ③读取磁盘CP#       ③清除FW7 d7 d; Z; T' T& {
                                     ④写入磁盘CP#; g; L' H6 r& |
③磁盘固件区操作   ③软件屏蔽磁头      ⑤读磁盘固件MOD* ^1 L; X+ X- w( P3 w
                                     ⑥写磁盘固件MOD
( k; k' C( R. p5 N' @④磁盘ID信息      ④写入LDR文件     ⑦安全子系统设置 5 n2 W0 }+ k. e
' h( V* R% h4 d, S' _
⑤磁盘表面扫描     ⑤磁盘电机停转
, x5 l  y) ~  Z+ \9 p* y/ E. D6 s; e0 P                    # h' e# d. W$ Z: n+ A, K5 F& e

' J9 f; |2 u: S                  ①查看SMART表
- E' h' Z/ ~) F& Z⑥磁盘SMART表7 Z& A+ A) O/ w7 A! w, {
②重引导SMART （External module）
6 F& I. B4 d  u. E7 s6 l9 l               
: s0 U' ?2 M1 W# |8 [3 _                  ①查看磁盘缺陷表
# B) Y0 ^) f8 Z$ H% S                  ②从LBA地址增加缺陷值到缺陷表
/ _/ U2 l/ `+ P& F; t6 ~: A$ K; w                  ③从LCHS地址增加缺陷值到缺陷表. O# V: q- m2 t& g3 s! @: w
⑦磁盘缺陷表        ④从 物理扇区增加缺陷值到缺陷表7 i4 Y, V; L% }; w
                  ⑤从 物理磁道增加缺陷值到缺陷表1 v! {$ m0 J! a4 d: z) @0 i
                  ⑥以组方式增加到磁道的缺陷值
6 D) R. L; H. t                  ⑦以磁道缺陷值的组的方式增加到柱面缺陷值
' D: V$ O, l; j/ j- c6 u                  ⑧增加（插入）逻辑缺陷表+ m9 U+ Y6 f" P2 m3 Y
                  ⑨清空磁盘逻辑缺陷表  
/ C: D' o9 W/ U- }8 {, y* ?$ t8 E0 _: J# u% w4 u

6 s8 S  a/ G" j5 }- G3 |9 L; h⑧自动批处理模式  # t8 w  N  r/ u6 x  r7 ?
( C6 V7 ^; Q5 t' p8 N' Z) Q
+ M. v' J" `) c$ u& h9 }
⑨磁盘自检测  3 ?- W5 |& g& l0 J3 D0 S5 N
2 v6 ^+ g" |% `" R% ~6 ?, `
# Y% X4 u1 r; R
    ⑩退出菜单